AEC-Q100是AEC的第一个标准，是由美国汽车电子协会AEC所制定的规范,AEC-Q100于1994年6月首次发表，经过了十多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电子系统的通用标准。对于汽车电子元器件来说AEC-Q100是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。

AEC-Q100主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

AEC在AEC-Q100之后又陆续制定了AEC-Q001/Q002/Q003/Q004等指导性原则。华碧实验室将以下规范列出供大家参考使用：

AEC-Q100-001邦线切应力测试

AEC-Q100-002人体模式静电放电测试

AEC-Q100-003机械模式静电放电测试

AEC-Q100-004积体电路閂锁效应测试

AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试

AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试

AEC-Q100-007故障仿真和测试等级

AEC-Q100-008早期寿命失效率（ELFR）

AEC-Q100-009电分配评估

AEC-Q100-010锡球剪切测试

AEC-Q100-011带电器件模式的静电放电测试

AEC-Q100-012，12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

AEC-Q100车用IC产品验证流程图：

1. Design House: 可靠度实验前后的功能测试，此部分需IC设计公司与测试厂讨论执行方式，与一般IC验证主要差异在功能测试的温度设定，此部分稍后会进行说明。

2.Wafer Foundry:

D测试组为晶圆厂在Wafer Level的可靠度验证，Fabless的IC业者须与委托制造的晶圆厂取得相关资料。

3.Reliability Test : AEC将其分为:

            . 测试组A : 加速环境应力实验

            . 测试组 B : 加速工作寿命模拟

            . 测试组 C : 封装完整性测试

            . 测试组E : 电性验证测试

.            测试组 G : 空腔/密封型封装完整性测试

4.Design Verification:

部分测试组 E为设计时间的失效模式与影响分析评估，成品阶段的特性验证以及故障涵盖率计算。

5.Production Control:

测试组F的区域生产阶段的质量控管，包含良率/Bin使用统计手法进行控管及制定标准处理流程。

华碧实验室拥有资深的AEC-Q检测技术团队与丰富的设备资源，凭借与时俱进的知识和深耕汽车电子行业的经验，与您共同洞悉并应对调整，让您的产品确信。如您有相关AECQ的疑问，欢迎联系华碧实验室陈工：18951118324