韩国睿恩斯有限公司申请 X 射线检测器专利,实现特定钙钛矿结构的光电检测

金融界 2025 年 5 月 10 日消息,国家知识产权局信息显示,韩国睿恩斯有限公司申请一项名为“X 射线检测器”的专利,公开号 CN119947277A,申请日期为 2024 年 11 月。

专利摘要显示,本发明提供一种 X 射线检测器,包括:基板上的第一电极及第二电极;以及光电物质层,形成于所述第一电极及第二电极之间,并含有钙钛矿,其中,所述光电物质层包括:第一光电层,利用具有第一晶体尺寸的第一钙钛矿形成;以及第二光电层,在所述第一光电层上利用具有比所述第一晶体尺寸大的第二晶体尺寸的第二钙钛矿形成。

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