金融界2025年4月17日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市国微电子有限公司申请一项名为“一种芯片测试系统和测试方法”的专利，公开号CN 119827948 A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本申请属于芯片测试技术领域，提供一种芯片测试系统和测试方法，所述芯片测试系统包括上位机、ATE 测试设备和SLT测试设备；所述ATE测试设备与平移机械手配合，以完成对待测芯片的自动测试；所述SLT测试设备包括SAP组件、SLT测试板、可升降支撑机构、以及SLT测试机台；所述SLT测试板为根据所述平移机械手的结构特征进行限制布局的PCB板，所述限制布局至少包括所述SAP组件相对于所述SLT测试板的限制布局；本申请的SLT测试设备能够在芯片SLT测试中直接使用自动测试设备ATE设备的平移式机械手，不需要在耗费额外的成本去购买STL专业机械手设备，为相关人员节约了成本，避免设备采购带来的成本增加。

天眼查资料显示，深圳市国微电子有限公司，成立于2008年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本15000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市国微电子有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目699次，专利信息268条，此外企业还拥有行政许可11个。