金融界2025年4月30日消息，国家知识产权局信息显示，普冉半导体（上海）股份有限公司申请一项名为“芯片测试方法及装置”的专利，公开号CN119881590A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本申请提供了一种芯片测试方法及装置。其中，芯片测试方法应用于半导体成品测试阶段，包括：读取芯片的第一标识信息，第一标识信息用于识别芯片是否经历直流测试；基于第一标识信息和预设标识信息，确定擦除芯片中写入的测试项目信息；当第一标识信息与预设标识信息一致时，擦除测试项目信息；对芯片进行直流测试；对通过直流测试，且第一标识信息与预设标识信息不一致的芯片，写入预设标识信息为第一标识信息；对芯片进行功能测试；全片擦除通过功能测试的芯片，获取通过半导体成品测试阶段的芯片。本申请具有识别芯片是否进行重复测试，减少擦除测试次数，提高芯片测试效率，提升测试结果可靠性和产品良率的技术效果。

天眼查资料显示，普冉半导体（上海）股份有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本10560.9735万人民币。通过天眼查大数据分析，普冉半导体（上海）股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目7次，财产线索方面有商标信息11条，专利信息193条，此外企业还拥有行政许可7个。