金融界2025年4月28日消息，国家知识产权局信息显示，深圳市伟智半导体有限公司申请一项名为“用于微小特征结构的三维AOI检测设备”的专利，公开号CN119880903A，申请日期为2024年11月。

专利摘要显示，本发明公开了用于微小特征结构的三维AOI检测设备，涉及产品检测技术领域。本发明包括：用于支撑整个检测设备的基座；组装式移动平台，包括X轴直线导轨、适配安装于X轴直线导轨上部的Y轴直线导轨、固定于Y轴直线导轨上部的吸附组件，以及位于吸附组件上方的Z轴直线导轨；机罩，其内部横向固定有安装架；光源模块，包括波长可调的光源本体，以及用于光源本体角度调整的驱动马达；图像识别相机，配备有放大镜组；控制单元，包括主控制器和多个从属控制器。本发明通过设置波长可调的光源模块，适应不同样品和检测需求，配备有多种放大倍率透镜组的图像识别相机，提高检测的分辨率和灵敏度。

天眼查资料显示，深圳市伟智半导体有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市伟智半导体有限公司参与招投标项目11次，专利信息1条，此外企业还拥有行政许可2个。