创远信科申请基于边界扫描实现DDR颗粒故障检测的系统及其方法专利,无需将BGA器件拆卸即可进行测试

金融界2025年8月26日消息,国家知识产权局信息显示,创远信科(上海)技术股份有限公司申请一项名为“基于边界扫描实现DDR颗粒故障检测的系统及其方法”的专利,公开号CN120544654A,申请日期为2025年04月。

专利摘要显示,本发明涉及一种基于边界扫描实现DDR颗粒故障检测的系统,包括印制电路板和JTAG连接线,印制电路板包括FPGA模块和插座,JTAG连接线连接故障检测系统与被测试设备,FPGA模块设置在印制电路板上,插座与连接线对接,插座与FPGA模块相连。本发明还涉及一种基于边界扫描实现DDR颗粒故障检测的方法。采用了本发明的基于边界扫描实现DDR颗粒故障检测的系统及其方法,无需将BGA器件拆卸即可进行测试,省去了拆卸的时间与金钱成本。本系统有两种测试模式,可以满足不同的测试需求。需要大批量排除故障时可以选择单板模式,需要准确地定位和分析问题时可以选择USB模式;可针对不同配置的DDR进行测试,适用范围广。测试由FPGA自动完成,测试速度较快,操作简单。

天眼查资料显示,创远信科(上海)技术股份有限公司,成立于2005年,位于上海市,是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本14284.0508万人民币。通过天眼查大数据分析,创远信科(上海)技术股份有限公司共对外投资了12家企业,参与招投标项目412次,财产线索方面有商标信息38条,专利信息478条,此外企业还拥有行政许可7个。

打开APP阅读更多精彩内容